Das Leipziger nanoAnalytikum (LenA)

Hauptschwerpunkt der Forschungsarbeiten am Leipziger nanoAnalytikum (LenA) ist die detaillierte Untersuchung von Mikrostruktur-Eigenschaftsbeziehungen in funktionalen Materialien. Besonderes Augenmerk liegt dabei auf der Anwendung fortgeschrittener Transmissionselektronenmikroskopischer (TEM) Methoden, wie aberrations-korrigierter Raster TEM (STEM) und spektroskopischer Techniken, in der Material- und Oberflächenanalyse. Spezielles Interesse gilt dabei  der Aufklärung der Realstruktur von dünnen Schichten, Grenzflächen und Nanomaterialien auf atomarer Ebene. Die TEM Untersuchungen werden an einem analytischen sonden Cs-korrigierten Titan³ G2 60-300 S/TEM durchgeführt, das mit einem X-FEG Shottky-Emitter sowie Super-X EDX-Detektor und GIF Quantum Energiefilter Systemen ausgestattet ist. Die zu untersuchenden Proben werden mit fortgeschrittenen Präparationstechniken hergestellt, so zum Beispiel der Fokussierten Ionenstrahl Präparation (FIB) gefolgt von niederenergetischem Argon-Ionen-Dünnen. Zusätzlich steht zur Voruntersuchung ein Hitachi 8100 S/TEM mit einer LaB6 Quelle bereit, sowie ein Umgebungs-Rasterelektronenmikroskop (ESEM Quanta 250) zur Untersuchung von Probenoberflächen.

Leipziger nanoAnalytikum (LenA)
Titan³ G2 60-300 S/TEM
Atomic-resolution image of GaN-SiC interface