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  1. A. Neff, F. Niefind, B. Abel, S. C. B. Mannsfeld, K. R. Siefermann,
    Imaging Nanoscale Morphology of Semiconducting Polymer Films with Photoemission Electron Microscopy
    Adv. Mater. 29 (2017) 1701012

  2. A. Neff, K. R. Siefermann,
    Die Zukunft der ultraschnellen Spektroskopie
    Nachrichten aus der Chemie-GDCh Trendberichte 64 (2016) 316-319

  3. A. Neff, O. Naumov, T.-J. Kühn, N. Weber, M. Merkel, B. Abel, A. Varga, K. Siefermann,
    High resolution imaging of a multi-walled carbon nanotube with energyfiltered photoemission electron microscopy
    Am J. of Nano Res. and App. 2 (2014) 27-33


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