Abteilungsübergreifende Materialcharakterisierung und Analytik

Die abteilungsübergreifende Gruppe Material­charakterisierung und Analytik bündelt die ana­lytischen Aktivitäten der beiden Abteilungen des IOM. Die experimentelle Ausstattung um­fasst ein breit­ge­fächertes Spektrum instrumen­tell-analytischer Methoden für eine umfas­sen­de physikalische und chemische Charakteri­sie­rung von Materialien. Einen zen­tra­len Schwer­punkt bilden Me­tho­den für die Ana­lytik von Ober­flächen. Breiten Raum neh­men dabei vor allem verschie­dene bild­geben­de Ver­fahren ein, die sich generell durch große Viel­seitigkeit und sehr hohes Lei­stungs­­ver­mögen auszeichnen. Darüber stehen zahl­reiche Methoden für die Aufklärung der ele­mentaren bzw. chemi­schen Zusammensetzung, der Ana­lyse der moleku­laren, kristallinen bzw. Phasen­struktur sowie zur Charak­teri­sierung der funk­tionalen Eigen­schaften von Materialien zur Ver­fügung.

 

Oberflächenanalytik

Mikroskopie:

Methoden: (E-)SEM, AFM, optische Mikroskopie (LiMi/DIC, Konfokal)
Form/Topographie:

Methoden: Interferometrie (Stitching, Weißlicht), AFM, Dynamische Lichtstreuung, Konfokalmikroskopie, optische/taktile Profilometrie
Benetzung:

Methoden: Kontaktwinkelmessung

Materialcharakterisierung

Materialzusammensetzung:

Methoden: SEM/EDX, TEM/EDX, EBSD, XPS, TOF-SIMS
Phasenanalyse:

Methoden: XRD, XPS, EBSD, TOF-SIMS, Ellipsometrie, FTIR, Raman
Thermische Analyse:

Methoden: TGA, TGA-IR, DSC, DMA

Molekulare Struktur

Strukturaufklärung:

Methoden: FT-IR, FT-RAMAN, UV/VIS/NIR, NMR, EPR, ICP-OES

Link zu AG Scherzer
Stofftrennung:

Methoden: HPLC, GC/MS optional mit Direkteinlaß, (HT)-GPC
Massenspektrometrie:

Methoden: MALDI-TOF, GC/MS

Link zu AG Elsner

Analyse kristalliner Festkörper

Kristallstruktur/Textur:

Methoden: XRD, EBSD, TEM

Link zu AG Gerlach
Orientierungs-/Phasenverteilung:

Methoden: EBSD, TOF-SIMS, XPS, SEM/EDX, TEM/EDX, XRD, AFM
Realstruktur:

Methoden: TEM, STEM, HRTEM, HRSTEM, EDX, EFTEM, EELS, NBD, SAED

Link zu AG Lotnyk

Analyse funktionaler Materialeigenschaften

Optische Eigenschaften:

Methoden: FT-IR, (FT-)Raman, UV/VIS/NIR, Ellipsometrie, Fluoreszenz
Viskoelastische Eigenschaften:

Methoden: Rheologie, Mikrorheologie, Mikro- & Nanohärte, DMA
Dünnschichtcharakterisierung:

Methode: Ellipsometrie, XRR, optische/taktile Profilometrie, TEM, XPS

Link zu AG Bundesmann