Optische Eigenschaften

Methoden der Schwingungsspektroskopie können für vielfältige Aufgaben in der Analytik eingesetzt werden (z.B. Strukturaufklärung, Reaktionsverläufe, Prozessüberwachung etc.). Ellipsometrie ermöglicht die Charakterisierung von Schichtdicken und Oberflächeneigenschaften (z.B. dielektrisches Verhalten, Brechungsindices). Verfahren der bildgebenden Spektroskopie machen örtliche Verteilungen der erfassten Parameter sichtbar.

Analysetechniken: FT-IR, (FT-)Raman, UV/VIS/NIR, Ellipsometrie, Fluoreszenz