Photonen, Elektronen und Partikel in Wechselwirkung mit Oberflächen und Grenzflächen

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Zeitaufgelöste Photoemissionselektronenmikroskopie

Schema eines zeitaufgelösten Laser-PEEMs unter Nutzung eines fs-Oszillators als Laserquelle

Photoemissionselektronenmikroskopie (PEEM) ist eine der neuesten Methoden zur Abbildung der Oberflächenmorphologie auf der Nanometerskala. Unser PEEM erlaubt, in Abhängigkeit von der Probenrauheit, eine Darstellung der Oberflächenmorphologie mit einer Auflösung von 40-60 nm. Der Fokus der gegenwärtigen Arbeiten liegt auf der Untersuchung der Morphologie organischer Halbleiterfilme für elektronische und optoelektronische Anwendungen. Weil die Morphologie in diesen Systemen einen erheblichen Einfluss auf die elektronischen Eigenschaften hat, ist die exakte Kenntnis über diese in solchen organischen Hableiterfilmen von herausragender Bedeutung, um eine Abhängigkeit der Morphologie auf der Nanometerskala mit den elektronischen Eigenschaften der organischen Hableiterfilmen herstellen zu können. Durch die Kopplung unserer PEEM-Apparatur mit einem fs-Lasersystem, ist es darüber hinaus möglich eine Korrelation zwischen der Nanomorphologie der Probe und der Dynamik von angeregten zuständen in der Probe zu erstellen, was mit anderen Techniken kaum realisierbar ist.

Schlüsseltechniken

  • Laser-PEEM

Ausgewählte Publikationen

  • A. Neff, F. Niefind, B. Abel, S.C.B. Mannsfeld, K.R. Siefermann
    Imaging Nanoscale Morphology of Semiconducting Polymer Films with Photoemission Electron Microscopy
    Adv. Mater. 29 (2017) 1701012
    doi: 10.1002/adma.201701012