Nanostrukturforschung und Elektronenmikroskopie

Die analytische Transmissionselektronenmikroskopie (TEM) ist eine der leistungsfähigsten Untersuchungsmethoden im materialwissenschaftlichen Bereich und ermöglicht es, die Struktur und Eigenschaftskorrelationen der Materialien effizient darzustellen. Der Arbeitsbereich umfasst die wissenschaftliche Forschung auf dem Gebiet der Strukturanalyse von Grenzflächen und dünnen Schichten mittels hochauflösender TEM und Elektronenspektroskopie. Die Untersuchungen werden an einem leistungsstarken TEM (Titan3 G2 60-300, ausgestattet mit Cs-Sondenkorrektor, GIF und Super-X System) durchgeführt. Außerdem steht ein Hitachi 8100 für die Voruntersuchungen der TEM-Proben sowie ein REM (ESEM Quanta 250) für die Untersuchungen der Probenoberflächen zur Verfügung.