Gestern empfing das IOM eine Delegation der Changwon National University aus Südkorea. Der Besuch fand im Rahmen eines internationalen akademischen Austauschs statt und bot Einblicke in aktuelle Forschungs- und Entwicklungsarbeiten des Instituts.

Die Delegation bestand aus zwölf Studierenden sowie einem Fakultätsmitglied der Fakultät für Ingenieurwissenschaften. Begrüßt wurde die Gruppe vom stellvertretenden wissenschaftlichen Direktor, Prof. Thomas Arnold. Im Anschluss führten Nachwuchswissenschaftler des IOM die Gäste durch zentrale Bereiche des Instituts. Vorgestellt wurden unter anderem die Ionenstrahlanlagen RIBE450 zur ultra-präzisen Oberflächenbearbeitung, das Plasmalabor für plasmagestützte Schichtabscheidung, die Diagnostikplattform zur Charakterisierung von reaktiven Ionenstrahlprozessen sowie die Anlagen zur Herstellung von Flachfilter- und Hohlfasermembranen. Die Führung ermöglichte einen praxisnahen Eindruck von den Forschungsinfrastrukturen und den angewandten Technologien am IOM.

Begleitet wurde der Besuch von Shasilia Lee, Koordinatorin für internationale Zusammenarbeit an der Changwon National University. Die Changwon National University ist eine regionale Spitzenuniversität im Südosten Südkoreas und spielt eine wichtige Rolle bei der Ausbildung von Ingenieurinnen und Ingenieuren für die Schlüsselindustrien des Landes. Sie ist insbesondere für ihre praxisorientierte Forschung, interdisziplinäre Innovationsansätze und die enge Zusammenarbeit zwischen Industrie und Wissenschaft bekannt. Die Ingenieursfakultät der Universität ist stark auf zukunftsorientierte Technologien und globale industrielle Entwicklungen ausgerichtet.

Neben Elektronik und Elektrotechnik, künstlicher Intelligenz und Robotik, technischer Ausbildung und Innovation sowie Automobiltechnik und Mobilität der Zukunft galt das Interesse der Delegation vor allem dem Thema Halbleitertechnologie. Der Besuch am IOM bot hierfür wertvolle fachliche Impulse und förderte den internationalen wissenschaftlichen Austausch.